值微冲击开关的研制

陈光焱 杨黎明

陈光焱, 杨黎明. 值微冲击开关的研制[J]. 爆炸与冲击, 2007, 27(2): 190-192. doi: 10.11883/1001-1455(2007)02-0190-03
引用本文: 陈光焱, 杨黎明. 值微冲击开关的研制[J]. 爆炸与冲击, 2007, 27(2): 190-192. doi: 10.11883/1001-1455(2007)02-0190-03
CHEN Guang-yan, YANG Li-ming. Fabrication of a high-g micro impact switch[J]. Explosion And Shock Waves, 2007, 27(2): 190-192. doi: 10.11883/1001-1455(2007)02-0190-03
Citation: CHEN Guang-yan, YANG Li-ming. Fabrication of a high-g micro impact switch[J]. Explosion And Shock Waves, 2007, 27(2): 190-192. doi: 10.11883/1001-1455(2007)02-0190-03

值微冲击开关的研制

doi: 10.11883/1001-1455(2007)02-0190-03

Fabrication of a high-g micro impact switch

  • 摘要: 采用微机电系统(MEMS)技术设计制作了一种微冲击开关,其敏感元件由悬臂梁支撑的质量块和其下的微触点构成。在冲击加速度作用下,质量块与触点碰撞实现接通。开关芯片体积为5 mm5 mm0.5 mm,动作门限3 000g,响应时间84 s,能承受极端的高冲击而不破坏。
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出版历程
  • 刊出日期:  2007-03-25

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